上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品
SCI美国科学计算国际公司薄膜测量 软件产品 及 仪器产品
网址:www.sci-soft.com
SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具.
A) 薄膜测量/测试 软件
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件)
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件)
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包)
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包
B) 薄膜测量 仪器
SCI FilmTek系列, 可测量:\+_Nq~
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\
Maximum Spectral Range 最大光谱范围
Standard Spectral Range标准光谱范围
Reflection反射测量
Transmission透射测量
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量
Power Spectral Density功率谱密度测量
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量
Index of Refraction折射系数测量
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数
Energy band gap能量带隙测量
Composition成分测量
Crystallinity晶状测量
Inhomogeneous Layers非均匀层测量
Surface Roughness表面粗糙度测量
etc. 等等
Typicalapplications典型应用:P
OLED有机发光二级管薄膜
Flat panel display平板显示器薄膜
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜
Computer disks计算机磁盘薄膜
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜
Laser mirrors激光镜薄膜Op)`
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC
etc. 等等
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818 王小姐/陈先生
邮件：wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com网址：http://www.ECCN.com
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