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充电前的淬火对Teflon FEP薄膜驻极体电荷贮存能力的影响

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发表于 2013-7-21 08:29:41 | 显示全部楼层 |阅读模式
充电前的淬火对Teflon FEP薄膜驻极体电荷贮存能力的影响

【作者】 夏钟福;

【Author】 Xia Zhongfu (Tongji University, Shanghai)

【机构】 同济大学 上海 200092;

【摘要】 研究了充电前的淬火对Teflon FEP等驻极体材料电荷贮存能力的影响。淬火前的升温率、淬火期间的冷却率、淬火温度、淬火后和充电前的储存时间等热处理参数的调节,导致了TSD电流谱线峰值的变化和峰温的漂移,影响了电荷的贮存寿命。如果合理地控制淬火参数,在样品结晶度降低并不明显而平均晶粒直径显著减小时,能改善电荷贮存稳定性。利用初始上升法和峰值清洗术估算了Teflon FEP在淬火前后的活化能和试图逃逸频率。此外,还利用热传输方程和电晕、电子束充电及TSD实验从理论和实验方面研究了FEP样品在淬火期间的淬透性和样品厚度的关系。 更多还原

【关键词】 聚合物薄膜; 淬火; 稳定性; 充电;

【基金】 中德合作课题“Corona Charging of Polymer at Elevated Temperature”

【参考文献】 说明:反映本文研究工作的背景和依据
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[1] Creswell,R. A. et al. Journal of Applied Physics . 1970
[2] Von Seggern,H. J. Applied Physics . 1979 [3] Remke,R. L. J. Applied Physics . 1983
[4] Birnie,D. P. et al. Journal of Materials Science . 1985

充电前的淬火对TeflonFEP薄膜驻极体电荷贮存能力的影响_夏钟福.rar

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充电前的淬火对Teflon FEP薄膜驻极体电荷贮存能力的影响

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