上海EMD代理美国SCI高精准薄膜度量系统与软件分析产品

degpak

SCI美国科学计算国际公司
薄膜测量 软件产品 及 仪器产品
网址:www.sci-soft.com

SCI为薄膜设计,材料分析,椭圆偏光法,分光光度测定法提供不同的工具.
A) 薄膜测量/测试 软件
一.FilmWizard (Optical Thin Film Software光学薄膜软件)
Design设计|Materials材料|Analysis分析|Optimization优化|Synthesis综合|Results计算结果|Macro宏
二.FilmMonitor(Monitor Deposition Software监视沉积软件)
三.FilmEllipse(椭偏数据生产线工艺软件包)
FilmEllipseTM是分析和捕获椭圆偏光数据的生产线上工艺型易用的软件包
B) 薄膜测量 仪器
SCI FilmTek  系列, 可测量:\+_Nq~
Index of Refraction折射指数(at 2μm thickness) Thickness Measurement Range 厚度测量范围,K^q\
Maximum Spectral Range 最大光谱范围
Standard Spectral Range标准光谱范围
Reflection反射测量
Transmission透射测量
Optional Spectroscopic Ellipsometry可选择的光谱椭圆偏光法测量
Power Spectral Density功率谱密度测量
Multi-angle Measurements (DPSD) 多角度测量
Both TE & TM Components of Index Multi-layer thickness多层厚度测量
Index of Refraction折射系数测量
Extinction (absorption) Coefficient消光(吸收)系数
Energy band gap能量带隙测量
Composition成分测量
Crystallinity晶状测量
Inhomogeneous Layers非均匀层测量
Surface Roughness表面粗糙度测量
etc. 等等
Typical  applications典型应用
OLED有机发光二级管薄膜
Flat panel display平板显示器薄膜
Semiconductor and dielectric materials半导体和电介质材料薄膜
Computer disks计算机磁盘薄膜
Multilayer optical coatings多层光学涂层薄
Coated glass有涂层的玻璃薄膜>nU3
Optical antireflection coatings光学抗反射涂层薄膜
Laser mirrors激光镜薄膜Op)`
Electro-optical materials电镀光学材料薄膜
Thin Metals薄金属薄膜6e4,iC
etc. 等等
详细信息请电话或邮件联系EMD上海办事处或前往SCI网站查询，联系方式如下：
电话021-61021226转820/818    王小姐/陈先生
邮件：[email=wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com]wangdongmei@eccn.com/benchan@eccn.com[/email]网址：http://www.ECCN.com